RFおよびマイクロ波試験装置では、アジレント·テクノロジズの「性能」の定義は主に、装置の精度、広い測定範囲および周波数を指します。 ダイナミックレンジ、歪み、ノイズレベル、位相ノイズなど、絶対精度測定範囲の振幅と周波数を含む計測器の精度は、信号レベルの測定精度に影響を与え、帯域幅は周波数解析やデタレトの幅に影響します。 使用されるハドウェア、入出力（I / O）インタフェイス、ソフトウェアに応じて、速度やスルプットの速度テストを行います。ハドウェアとスピドに影響を与える4つの要素、すなわち実行時間の測定、実行時間の測定、処理時間、およびデタ転送時間を含む。 RFおよびマイクロ波周波数では、DUTまたはテストシステムを変更するたびに、設定時間が非常に重要です（開または閉スイッチ、電力レベルの変更など）、必要な安定時間（セトリング時間）。
テストシステムの安定した一貫性は、テストと毎日のテストが一貫した結果を生み出すたびに非常に重要です。 しかし、精度は個々の計測器の有効性に依存し、明示的な精度と安定性に言及し、測定結果が一貫しているため、精度は高いとは言えません。 各測定器は、測定値やパタンによって安定性が異なる場合がありますので、製品の仕様や検査は非常に重要です。 ある程度まで、より平均的に、または標準的な測定方法の結果を正確に近似するアルゴリズムを変更することで、安定性を向上させることができるでしょう。 変化の数を最小限に抑えるための設定（中心周波数、周波数、減衰レベル）を測定することで、安定性の最高の一貫性を実現できます。