アッテネータの関連パラメータ

1）減衰：送信中に一方の端から他方の端への信号の減少を記述するために使用される量。倍数またはデシベルで表されます。

2）VSWR：伝送線路の出力における負荷インピーダンスに対する特性インピーダンスの比。

3）最大平均パワー：アッテネータの出力において、特性インピーダンスが印加された場合、指定された最大動作温度での最大パワーがアッテネータ入力に長時間印加されます。動作温度が20℃Cに低下し、入力電力が10mWに低下すると、アッテネータの他のインジケータが変化すべきではありません。

4）挿入損失の力率：入力電力が10mWから定格電力までのときの挿入損失（dB）の変化。

5）最大ピーク電力：アッテネータの出力において、指定された最大動作温度で、指定された時間内に特性インピーダンスが印加されると、アッテネータ入力に印加される5msのパルス幅の最大パルス電力が印加される。動作温度が20℃Cに低下し、入力電力が10mWに低下すると、アッテネータの他のインジケータが変化すべきではありません。

6）温度係数：dB /℃で表される最大動作温度範囲での挿入損失の最大変化。

7）衝撃と振動：アッテネータは3方向の衝撃と振動試験に耐えなければならない。

8）挿入損失の周波数応答：20＆ordmおよびC（dB）における全周波数範囲における損失値の変化。

9）動作温度限界：アッテネータが最大入力電力（ºC）で動作する最高温度。

10）公称挿入損失の偏差：20°Cで測定した挿入損失と公称値との偏差、Cおよび入力電力10mW。

11）共同生活：通常の接続/切断の数。指定された寿命内のすべての電気的および機械的インジケータは、仕様の要件を満たさなければならない。

12）相互変調歪み：相互変調歪みは、装置内の非線形要因によって引き起こされるスプリアス信号からなる。 3次相互変調歪みは、3次相互変調積が最大であり、フィルタリングすることができないので、3次相互変調歪に特に注意する必要があります。 3次相互変調レベルの試験方法は、被試験デバイスに2つの等振幅純粋な信号（F1およびF2）を注入することであり、3次相互変調は出力スペクトルの2f1-f2および2f2-f1に現れる。 3次相互変調の積は、-dBcで表されるF1またはF2の大きさによって定義されます。

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